簡要描述:高溫電阻率測試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理,高溫電阻率測試系統(tǒng) 生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量。用于:企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
高溫電阻率測試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理
高溫電阻率測試系統(tǒng) 生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量
高溫電阻率測試系統(tǒng)
電阻測量范圍: 1、電阻率: 1×10-8~2×106Ω-cm電 阻:1×10-8~2×106Ω
電導(dǎo)率:5 ×10-6~1×108ms/cm
分辨率: zui小0.1μΩ 測量誤差±(0.05%讀數(shù)±5字)2、測量電壓量程: 2mV 20mV 200mV 2V 測量精度±(0.1%讀數(shù))
分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV3、⑴電流輸出:直流電流 0~10000mA 連續(xù)可調(diào),由交流電源供電。 ⑵量程:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,1000mA,10A量程可自動(dòng)轉(zhuǎn)換或者人工設(shè)定. ⑶誤差:±0.2%讀數(shù)±2字
4. 主機(jī)外形尺寸:330mm*340mm*120mm
5、顯示方式:液晶顯示
zui高溫度: 1200℃可調(diào)節(jié);沖溫值:≤1-3℃;控溫精度:±1°C
11、升溫速度:9999分鐘以內(nèi)自由設(shè)定,一般10分鐘內(nèi)即可升到900℃;功率:3kw.
12、爐膛材料:采用復(fù)合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征。
概述:
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制,解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求,軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜,及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.
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